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[1] 馮燕, 陳岚, 王東, 等. 基于IEEE1500标准的IP核测试壳的设计与验证[J].微电子学与计算机, 2016,33(7): 110-114.

[2] 马娟, 陳岚, 馮燕, 等. 用于SoC集成的IP核质量评测方法研究[J]. 微电子学，2014,44(4): 555-558,564.

[3] 彭智聰, 陳岚, 馮燕, 等. 基于sigma-delta调制技术的片内正弦激励生成方法[J]. 微电子学与计算机, 2015,32(11):137-141.

[4] 赵新超, 陳岚, 馮燕. 基于混合原型平台的UART IP核设计与验证[J]. 电子技术应用, 2015,41(10):39-42

[5] 王東, 陳岚, 馮燕. 一种基于40 nm CMOS工艺的电流舵DAC IP核设计[J]. 微电子学与计算机, 2017,34(2): 25-29.

[6] 彭智聰, 陳岚, 馮燕, 等. 基于IEEE802.3标准的MAC在不同视角的事务级建模研究[J]. 微电子学与计算机, 2017,34(7): 56-59,64.

[1]  馮燕, 陳岚. “測試殼設計方法及裝置”, 專利授权号: ZL: 201610289656.9. 

[2]  馮燕, 陳岚, 王東.“一種嵌入式芯核測試殼裝置及其設計方法”, 專利授权号: ZL 201510729220.2. 

[3]  馮燕, 陳岚. “內建自測試方法、裝置及片上系統”,專利授权号: ZL 201510062392.9. 

[4]  馮燕, 陳岚.“一種脈沖展寬電路及脈沖展寬方法”,專利授权号: ZL 201610957975.2. 

[5]  馮燕, 陳岚. “時鍾控制裝置及包含時鍾控制裝置的片上系統”,專利授权号: ZL 201110388136.0. 

[6]  馮燕, 陳岚. “總線接口轉換方法及總線橋接裝置”,專利授权号: ZL 201210175090.9. 

[7]  彭智聰, 陳岚, 馮燕.“基于存儲器的片內模擬激勵生成方法中比特流的選擇方法”,專利授权号: ZL 201410799882.2. 

[8]  柳臻朝, 陳岚, 馮燕, 等. “片上系統中ADC內建自測試電路及測試方法”, 專利授权号: ZL 201610065972.8. 

[9]  張廷, 陳岚, 馮燕. “一種快速傅裏葉變換處理器”,專利授权号: 201110326494.9. 

[10] 張廷, 陳岚, 馮燕. “基于SystemVerilog斷言和任務的協同總線驗證方法及系統”, 專利授权号: 201110390469.7. 

[11] 張廷, 陳岚, 馮燕.“一種流水線結構的FFT處理器” ,專利授权号: 201310150973.9. 

[12] 王東, 陳岚, 馮燕. “一種自偏置電流源”,專利授权号: 201210575839.9. 

[13] 馮燕, 陳岚. “一種基于測試殼的IP核測試方法” ,專利申請號: 201610289946.3. 

[14] 馮燕, 陳岚. “測試殼設計方法及裝置”, 專利申請號: 201610289656.9. 

[15] 馮燕, 陳岚. “測試圖形翻譯方法及芯核測試殼裝置”, 專利申請號: 201610652013.6. 

[16] 馮燕, 陳岚. “一種掃描測試執行方法、裝置及系統”, 專利申請號: 201910227950.0.